Inicio » Soluciones y Servicios » Servicio de análisis de caracterización por XPS, ARXPS, UPS, Mapeo (elemental y de composición)
Caracterización química superficial (<10 nm).
Composición elemental (porcentajes atómicos).
Perfil de composición no destructiva (XPS angular).
Perfil de composición en películas delgadas con erosión de iones (hasta 1mm de profundidad).
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