Inicio » Soluciones y Servicios » Servicio de análisis de caracterización de perfil de profundidad con erosión de iones (solo películas delgadas) (XPS)
Caracterización química superficial (<10 nm)
Composición elemental (porcentajes atómicos)
Perfil de composición no destructiva (XPS angular)
Perfil de composición en películas delgadas con erosión de iones (hasta 1mm de profundidad)
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