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Servicio de análisis de caracterización en el microscopio de Fuerza Atómica (AFM JEOL JSPM 5200)

Caracterización superficial en 3D de materiales planos

1,200.00 MXN Precio Académico
$1,750.00 MXN Precio Empresa

/ por sesión

Me interesa

Laboratorio:

LINAN

División:

Materiales avanzados

Sectores:

Automotriz, Metalúrgico

Investigadores:

Dra. Olga Araceli Patrón Soberano

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Descripción

Caracterización superficial en 3D de materiales planos

Obtención de imágenes topográficas en 2D y 3D obteniendo mediciones por debajo de los 3 Angstroms

Determinación de propiedades mecánicas

Análisis de homogeneidad de la muestra

Análisis de tamaño de partículas

Necesidades que resuelve

Análisis de materiales biológicos, fármacos, alimentos, metales, cerámicos, películas delgadas, cristales, polvos, pinturas, nano partículas, nano materiales, aleaciones, etc.
Determinación de grosor en películas delgadas o depósitos
Áreas como medicina, ciencias de la salud, nanotecnología, ciencia de materiales, industria automotriz, industria metálica, soldadura, etc.

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