Inicio » Soluciones y Servicios » Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de barrido (ESEM FEI FEG QUANTA 250)
Caracterización detallada de la superficie de los materiales
Observación de la textura y topografía superficial
Amplificaciones de observación de entre 25 y 500,000 aumentos
Medición de tamaño de partícula (5nm-500mm)
EDS para análisis químico elemental en la superficie de los materiales (penetración 1.0 -2 mm)
Ubicación de regiones con diferente composición química (mapeo químico)
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