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Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de barrido (ESEM FEI QUANTA 200)

Caracterización detallada de la superficie de los materiales
1,750.00 MXN Precio Académico:
$2,800.00 MXN Precio Empresa
/ Precio por sesión
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Descripción

Caracterización detallada de la superficie de los materiales

Observación de la textura y topografía superficial

Amplificaciones de observación de entre 25 y 500,000 aumentos

Medición de tamaño de partícula (5nm-500mm) EDS para análisis químico elemental en la superficie de los materiales (penetración 1.0 -2 mm)

Ubicación de regiones con diferente composición química (mapeo químico)

Necesidades que resuelve

Caracterización de la superficie del producto terminado
Detección de micro y nanofracturas
Identificación química de impurezas
Análisis en regiones con defectos
Medición de regiones de oxidación para control de calidad
Medición de espesores
Identificación de fases minerales

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