Servicio de análisis de caracterización en el Difractómetro de Rayos X (XDR SmartLab RIGAKU)
Identificación cualitativa y semicuantitativa de compuestos cristalinos.
Servicio de análisis de caracterización en el espectofotómetro (MICRO RAMAN RENISHAW)
Brinda información química y estructural de los materiales
Servicio de Análisis de Dureza (Vickers)
Medición de la resistencia de un material al ser penetrado
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de barrido (ESEM FEI FEG QUANTA 250)
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de transmisión, (TEM JEOL 200 CX)
Se obtiene información sobre el tamaño y forma de las nanoestructuras
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de barrido (ESEM FEI QUANTA 200)
Caracterización detallada de la superficie de los materiales
Servicio de análisis de caracterización en el Sistema de Medición de Propiedades Físicas (PPMS)
Medición del momento magnético de una muestra sólida
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de barrido (UHR FEI HELIOS NANOLAB 600)
Caracterización detallada de la superficie de los materiales.
Servicio de análisis en el microscopio electrónico de transmisión de alta resolución (HRTEM FEI TECNAI F30)
Información sobre el tamaño y forma de las nanoestructuras
