Fundamentos de Microscopía Electrónica de Transmisión
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio de Fuerza Atómica (AFM JEOL JSPM 5200)
Caracterización superficial en 3D de materiales planos
Servicio de análisis de caracterización por XPS, ARXPS, UPS, Mapeo (elemental y de composición)
Caracterización química superficial
Servicio de análisis de caracterización en el difractómetro de Rayos X para polvos (XRD BRUKER D8 ADVANCE)
Análisis de caracterización en el difractómetro de Rayos X para polvos
Servicio de análisis de caracterización en el Difractómetro de Rayos X (XDR SmartLab RIGAKU)
Identificación cualitativa y semicuantitativa de compuestos cristalinos.
Servicio de análisis de caracterización en el espectofotómetro (MICRO RAMAN RENISHAW)
Brinda información química y estructural de los materiales
Servicio de Análisis de Dureza (Vickers)
Medición de la resistencia de un material al ser penetrado
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de barrido (ESEM FEI FEG QUANTA 250)
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de transmisión, (TEM JEOL 200 CX)
Se obtiene información sobre el tamaño y forma de las nanoestructuras
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de barrido (ESEM FEI QUANTA 200)
Caracterización detallada de la superficie de los materiales