Medición de Dureza
Determinación de la dureza de materiales en una escala microscópica (en áreas muy pequeñas de una muestra).
Espectrometría de fluorescencia de Rayos X
Determinación de la composición química elemental de diversos materiales mediante la medición de las energías e intensidades de los rayos X emitidos por la muestra al ser irradiada por una fuente conocida de rayos X de alta energía.
Espectrometría de electrones fotoemitidos por rayos-X
Servicio de análisis químico de alta sensitividad en la superficie de los materiales, con un límite de detección que aumenta con el número atómico del elemento.
Servicio de análisis de caracterización por XPS, ARXPS, UPS, Mapeo (elemental y de composición)
Caracterización química superficial
Servicio de análisis de caracterización en el difractómetro de Rayos X para polvos (XRD BRUKER D8 ADVANCE)
Análisis de caracterización en el difractómetro de Rayos X para polvos
Servicio de análisis de caracterización en el Difractómetro de Rayos X (XDR SmartLab RIGAKU)
Identificación cualitativa y semicuantitativa de compuestos cristalinos.
Servicio de análisis de caracterización en el espectofotómetro (MICRO RAMAN RENISHAW)
Brinda información química y estructural de los materiales
Servicio de Análisis de Dureza (Vickers)
Medición de la resistencia de un material al ser penetrado
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de barrido (ESEM FEI FEG QUANTA 250)
Servicio de análisis de caracterización en el microscopio electrónico de transmisión, (TEM JEOL 200 CX)
Se obtiene información sobre el tamaño y forma de las nanoestructuras
