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Scanning Electron Microscope Characterization Analysis Service (UHR FEI HELIOS NANOLAB 600)

Detailed surface characterization of the materials.
$2,400.00 MXN Academic Price
$3,250.00 MXN Company Price
/ Price per session
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Descripción

Detailed characterization of the surface of the materials

Observation of surface texture and topography

Observation magnifications from 25 to 500,000x magnification

Particle size measurement (5nm-500mm)

EDS for elemental chemical analysis on the surface of materials (penetration 1.0 -2 mm)

Location of regions with different chemical composition (chemical mapping)

Necesidades que resuelve

Caracterización de la superficie del producto terminado
Detección de micro y nanofracturas
Identificación química de impurezas
Análisis en regiones con defectos
Medición de regiones de oxidación para control de calidad
Medición de espesores
Identificación de fases minerales

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